１．ICのトラブル概略
（１）コース内容と予備知識の確認
（２）IC使用時におけるトラブルの概略

２．ICの破壊モードとその対策
（１）過負荷による破壊
（２）静電破壊（ESD）による破壊
（３）パルス入力（EOS）による破壊
（４）熱破壊・機械的破壊
（５）各破壊によるトラブル事例演習、対策技術と確認試験

３．ICの誤動作とその対策
（１）EMC、発振による誤動作
（２）熱暴走による誤動作
（３）ノイズ誤動作、EMC妨害による誤動作
（４）電源系による誤動作
（５）論理誤動作
（６）各誤動作によるトラブル事例演習、対策技術と確認試験

４．ICの寿命
（１）寿命の要因、寿命算定
（２）定格設計、De－rating確認、加速試験

５．まとめ
（１）全体的な講評及び確認・評価




≪担当予定講師≫
サクセスインターナショナル株式会社　技術顧問　栗田進